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NanoCalc 薄膜反射測量系統(tǒng)
薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進行10nm~250μm的膜厚分析測量，對單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測量軟件的不同，可以分析單層或多層膜厚。
常用的兩種測量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測量、橢圓光度法測量。NanoCalc利用反射原理進行膜厚測量。
技術(shù)參數(shù)
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入射角 |
90° |
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層數(shù) |
3層以下 |
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需要進行參考值測量 |
是 |
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透明材料 |
是 |
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傳輸模式 |
是 |
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粗糙材料 |
是 |
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測量速度 |
100ms - 1s |
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在線監(jiān)測 |
可以 |
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公差（高度） |
參考值測量或準直(74-UV) |
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公差（角度） |
參考值測量 |
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微黑子選項 |
配顯微鏡 |
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顯示選項 |
配顯微鏡 |
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定位選項 |
6"和12" XYZ 定位臺 |
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真空 |
可以 |
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